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晶圓探針測(cè)試自動(dòng)聚焦應(yīng)用

在半導(dǎo)體制造中,晶圓自動(dòng)聚焦檢測(cè)技術(shù)至關(guān)重要,雙翌光電的晶圓探針自動(dòng)測(cè)試應(yīng)用軟件V1.0,集成了自動(dòng)聚焦功能,可確保探針與晶圓精準(zhǔn)對(duì)接。該軟件支持多功能檢測(cè),涵蓋表面缺陷分析、電氣性能測(cè)試等,檢測(cè)精度達(dá)到微米級(jí)。通過自動(dòng)聚焦與微米級(jí)精度,軟件有效提升了檢測(cè)效率與準(zhǔn)確性,降低了因?qū)ξ黄顚?dǎo)致的檢測(cè)誤差,為半導(dǎo)體制造商提供了可靠的晶圓檢測(cè)解決方案。

項(xiàng)目需求 功能特點(diǎn) 用戶界面 應(yīng)用視頻

在半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)中,雙翌光電的晶圓探針自動(dòng)測(cè)試應(yīng)用軟件V1.0集成了自動(dòng)聚焦功能,支持晶圓的表面缺陷、電氣性能等多項(xiàng)檢測(cè),檢測(cè)精度達(dá)到微米級(jí),降低了因?qū)ξ黄顚?dǎo)致的檢測(cè)誤差,為半導(dǎo)體制造商提供了可靠的晶圓檢測(cè)解決方案。

自動(dòng)對(duì)位聚焦         ●微米級(jí)精度         ●多功能檢測(cè)         ●簡潔操作界面         ●專為半導(dǎo)體開發(fā)


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